更新時間:2024-12-20
孔徑測量,可以用于檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當于可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。
孔徑測量
這是一臺在很多校準實驗室采用的標定環規的計量設備,由于其*的設計和可靠的表現至今沒有被其他產品代替。可以用于檢定ASME X,XX,XXX級精度的環規,相當于可以檢定國內二等環規。 通過一整套完善的量值傳遞機構可以快速的找到環規的直徑拐點,這其中其大作用的是兩只消除了摩擦力影響的位移傳感器。孔徑測量這是一臺可以測量百萬分之內外尺寸的儀器,同時可以用來測量一些高精度的盤類零件。
孔徑測量技術描述
測量范圍: 內尺寸: 300mm,外尺寸:279mm
重復精度; ±0.025µm
測頭量程: ±40µm
示值誤差:0.25%量程
測頭材料:金剛石
重量:306kg
儀器高度:1422mm
工作臺尺寸:279mm x 406mm
占地尺寸:406mm x 508mm
數字輸出接口RS232C
電源:230V±10% 50-60Hz